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内容简介
本书理论和实践相结合，首先概略介绍了I/O Library，包括I/O Library在芯片设计中的功能、设计流程等；接着介绍了I/O电路中的ESD现象、ESD的测试方法和多种ESD保护功能模块的设计；然后着重讲解闩锁现象、GPIO的功能电路以及高速I/O电路的电路补偿方法等；最后展望了I/O Library的未来发展。
作者介绍
王国立，1999年获得北京邮电大学信息工程专业硕士学位。其后先后在中国华为、德国柏林GMD FOKUS、美国微芯 (Microchip)等公司从事通信电子和半导体芯片的工作。 在半导体领域，作者亲身从事过形形色色的半导体芯片工程项目的设计开发，使用过许多半导体制造工艺。
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